良率分析工程师(Yield Analysis Engineer)(J13385)
- 工作类型:全职
- 职位类别:工艺工程类
- 职位学历:硕士
- 招聘人数:若干
- 更新时间:2026.08.01
- 工作地点:上海市,上海市-浦东新区
职位描述
负责芯片制造过程中良率数据的系统性分析,识别关键瓶颈环节,推动良率提升。聚焦电性测试结果中的失效模式解析,结合测试诊断与制程在线数据(Inline),定位潜在工艺风险,协同跨部门团队完成问题闭环。开展晶圆级及最终测试(FT)良率数据分析,识别关键 Fail Bin 及低良率模式;
· 深入理解测试程序结构与诊断机制(如 Scan DFT、ChainSA、Memory BIST、IDDQ 等),解析 Failure Signature;
· 对比良率数据与 Inline 制程参数(如 CD、膜厚、缺陷密度、电性监控等),建立关联性分析模型;
· 利用数据分析平台(如 JMP、Python、SQL、Tableau 等)进行多维度数据挖掘,定位异常工艺窗口或模块;
· 主导或支持低良率批次(Low Yield Lot)的快速响应分析(RRA),输出初步根因判断;
· 协同测试工程、器件分析、缺陷检测与制程整合团队,推动问题闭环与改善措施落地;
· 建立自动化报表与监控看板,实现关键良率指标的可视化与趋势预警;
· 撰写分析报告,支持技术评审与跨部门沟通。
职位要求
熟悉半导体制造流程及测试流程,具备良率数据分析实际经验者优先;
· 理解常见测试诊断原理,能解读 Fail Bin 定义及其物理意义;
· 掌握基本数据分析工具,能使用 SQL 查询数据库,熟悉 Python/Matlab/JMP 者优先;
· 具备将 E-test 与 Inline 数据(如 SPC、ADC、Defect Map)进行比对分析的能力;
· 逻辑清晰,具备较强的问题分析与跨团队协作能力;
· 责任心强,能在快节奏环境中高效推进任务。